粉體行業在線展覽
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麥克默瑞提克（上 海）儀器有限公司
美國
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| 顆粒粒度測量技術的重大發展 |
天文學上高靈敏度和高分辨率的成像要求使CCDs得到了*初的發展。使用麥克公司**以CCD為基礎的檢測器，Saturn DigiSizer激光粒度儀在分析過程中可獲得樣品的光散射圖樣Saturn DigiSizer CCD獲得的高清晰度數字化散射圖樣，包含了形成散射圖案的粒度分布所需的信息。
美國麥克儀器公司的Saturn DigiSizer激光粒度儀應用了CCD以后，就可以不需要使用光學校準機械微調裝置。該儀器通過重新測繪CCD陣列而自動對齊這樣分配給每個元素的散射角是確切的，相對于中心不超過0.005度，而不是散射光束。Saturn DigiSizer激光粒度儀的CCD陣列對散射角的每五度都有超過130萬個檢測信號。由此產生的高分辨率可檢測散射圖樣的細微差別，因此就能檢測到粒徑分布的細微差別。這些顆粒粒徑上的細微差別顯示了生產過程的差別，有助研究者支持或駁斥理論的研究，或解釋自然過程。簡言之，更高的分辨率意味著能更好的判斷樣品的差異。
高分辨率、準確性、重現性的分析結果 顆粒粒度測量技術在過去的幾十年里得到了長足的發展，其中一個*重要的貢獻，是在這一領域中應用了激光技術，同時也運用了現代光電探測器和數字電腦處理技術。一段時間以來，激光散射技術的進展使分析速度更快，但是往往由于檢測器的不足，使所獲得的測量數據受到很大的限制。 美國麥克儀器公司認識到需要有更好的檢測能力的檢測器，所以針對性地研發出了采用激光二極管和一個現代化的電荷耦合器件（CCD）檢測器相結合的激光散射儀器。
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