粉體行業在線展覽
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北京明尼克分析儀器設備中心
美國
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SilcoNert®2000（6，444，326和6，511，760）是非晶硅的化學保護屏障，其進一步官能化以提供可用的*惰性表面。通過應用化學氣相沉積（CVD），SilcoNert®2000非常適用于硫化物，汞，氨或其他活性化合物的痕量級測試精度（<百萬分之一）。
特色與優勢
? 非視距工藝；所有孔和復雜的幾何形狀都能被涂層
? 消除吸附和再測試
? 獲得更快的校準
? 對結果充滿信心
SilcoNert®2000 規格
薄膜材質：表面烴化的氫化非晶硅
鍍膜工藝：熱化學氣相沉積法(非等離子法)
使用溫度：450°C（惰性氣體），400°C（氧化性氣體）
基板要求:兼容性:不銹鋼合金，陶瓷，玻璃，鈦及大多數特殊金屬
尺寸:不超過78英寸(198厘米)
形狀:不限，可鍍任何復雜三維結構
標準厚度：100 - 500 nm
疏水性（接觸角）：>= 65°
允許接觸的pH值 ：0 - 8
2830 ZT
ON-p
EMIA-Pro
XPERT
K-365
HL-N20
TrueX系列（手持式）
在線銅離子含量分析儀
Metorex C100
SUPEC 7020
A-380
CPG2/CPG2S
