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塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-3S

鄭重承諾：全球甄選知名供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達(dá)到**！

堅(jiān)決不做低價(jià)、減配、低品質(zhì)的經(jīng)濟(jì)版本和精簡(jiǎn)版等系統(tǒng)，維護(hù)國(guó)內(nèi)用戶的**利益！

熱電材料測(cè)試系統(tǒng)CTA-3S系統(tǒng)是在CTA-3系統(tǒng)的基礎(chǔ)上升級(jí)性能更加強(qiáng)大的硬件（數(shù)據(jù)采集、變壓器、功率調(diào)控模塊、溫度調(diào)節(jié)器和電磁場(chǎng)屏蔽處理、溫度控制方式等優(yōu)化），提高了溫度場(chǎng)控制精度和測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

技術(shù)特點(diǎn)：

·可控溫場(chǎng)下可同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率

·標(biāo)準(zhǔn)配置進(jìn)口高級(jí)商用吉時(shí)利（Keithley ）數(shù)采儀表，避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差

Keithley技術(shù)：

100nV rms 噪音本底

直流電壓靈敏度低至 10nV，基本精度為 0.002%（90天）

7ppm DCV 可重復(fù)性，基本 1 年 DCV 準(zhǔn)確度：0.0028%

**讀取速度范圍：2k 讀數(shù)/秒；

溫度分辨率：0.001℃；

交流電壓分辨率：0.1μV

電阻分辨率：1 μΩ

電流分辨率：1nA

低功耗歐姆測(cè)量模式

弱電流電路測(cè)試功能

偏置補(bǔ)償歐姆功能

檢定低壓元件又快又準(zhǔn)確

提高測(cè)量精度的置信度

以低至 100μA 的源電流測(cè)量低阻抗，**程度減少設(shè)備自發(fā)熱

進(jìn)行電阻測(cè)量時(shí)控制測(cè)試電壓，避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜

消除會(huì)在系統(tǒng)環(huán)境中進(jìn)行低電平電阻測(cè)量時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤的熱效應(yīng)

提供更精確的低電阻測(cè)量

·標(biāo)配進(jìn)口高級(jí)商用電流源（ADCMT），非電路板集成恒流源，避免無(wú)法精準(zhǔn)輸出小電流而產(chǎn)生熱效應(yīng)和測(cè)不準(zhǔn)

·恒流源參數(shù)：0.000-220mA；恒流設(shè)置分辨率：100nA；恒流穩(wěn)定性：0.008+20nA/天

·溫度范圍：RT up to 1150℃

·光波爐加熱技術(shù)，潔凈加熱不污染樣品和無(wú)揮發(fā)性，對(duì)操作者安全健康；整體水路設(shè)計(jì)和鍍金處理，無(wú)水垢堵塞問(wèn)題，終身免維護(hù)·控溫速率：0.01 –100K/min，可以節(jié)約用戶測(cè)試時(shí)間

·配置垂直放樣結(jié)構(gòu)，上下樣品支架夾持（三明治），精確控制溫度差

·測(cè)量范圍：賽貝克系數(shù)：0.5μV/K-25V/K；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm

· 0-80K溫差范圍可任意設(shè)置溫差值及溫差點(diǎn)的個(gè)數(shù)

· U-I曲線自動(dòng)掃描，計(jì)算出合適的電流數(shù)值，可以精確測(cè)量電導(dǎo)率；不會(huì)對(duì)大電阻樣品產(chǎn)生誤差

·鉑金大電極設(shè)計(jì)，和樣品可充分接觸，對(duì)于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測(cè)試

·熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定，滿足不同科研要求

·精度：賽貝克系數(shù)：±7 %；電導(dǎo)系數(shù)：±10 %（熱電材料測(cè)試，非康銅標(biāo)樣）；

·重復(fù)性：3%

·高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù)，包括溫差和測(cè)量步進(jìn)等高級(jí)要求

·自由升/降溫、可精確控制溫度程序，進(jìn)行升溫、恒溫與降溫過(guò)程中的數(shù)據(jù)測(cè)量

·熱電偶探針可選K、S、R型（無(wú)需鎧裝）配置，不會(huì)產(chǎn)生非常大的接觸電阻

·自動(dòng)壓力安全保護(hù)設(shè)計(jì)，進(jìn)口美國(guó)航天級(jí)硬件配置，確保測(cè)試過(guò)程中不會(huì)發(fā)生爆炸

·測(cè)量系統(tǒng)：柱狀、片狀、長(zhǎng)方體、薄膜等系統(tǒng)

技術(shù)規(guī)格

應(yīng)用

1、2018年5月18日，世界**期刊《Science》發(fā)表了北京航空航天大學(xué)趙老師等學(xué)者在熱電材料硒化錫應(yīng)用方面的重大研究成果：三維電子/二維聲子實(shí)現(xiàn)高ZT。祝賀趙老師課題組和其它合作課題組！

文章內(nèi)容鏈接：

2、2019年9月27日，《Science》雜志在線以全文Article的形式發(fā)表了北京航空航天大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院趙立東教授課題組在熱電材料研究上取得的新進(jìn)展：

《High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09 crystals》發(fā)現(xiàn)并利用硫化錫（SnS）的多個(gè)能帶隨著溫度的演變規(guī)律，通過(guò)引入Se優(yōu)化調(diào)控了有效質(zhì)量和遷移率的矛盾，在儲(chǔ)量豐富、成本低廉、環(huán)境友好的SnS晶體材料中實(shí)現(xiàn)了高的熱電性能 (Science365 (2019) 1418-1424.)。

該工作通過(guò)溫度梯度法合成出 SnS1-xSex 晶體結(jié)構(gòu)，并實(shí)現(xiàn)三個(gè)分離電子能帶之間相互作用的控制。Se 的引入實(shí)現(xiàn)電子傳輸（μ）和有效質(zhì)量（m*）兩大參數(shù)的同時(shí)優(yōu)化。300 K 時(shí)，PF 值從 30 升至 50 mW cm?1 K?2; 873 K 時(shí)，ZT **值和均值分別為 1.6 和 1.25。這種控制策略為優(yōu)化熱電性能提供了一條不同的途徑。開(kāi)發(fā)高性能SnS晶體是向低成本、地球資源豐富和環(huán)境友好型熱電技術(shù)邁進(jìn)的重要一步。

文獻(xiàn)鏈接：High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09crystals， 2019， Science， DOI:10.1126/science.aax5123.

以下附件不包含在CTA系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置中，需要用戶選配！

1、薄膜樣品夾具CTA-tff

薄膜樣品夾具CTA-tff由不銹鋼材料精加工和人工手工琢磨打造，采用先進(jìn)的分體式設(shè)計(jì)理念，可以對(duì)不同長(zhǎng)度樣品夾持，可適配不同熱偶間距（4、6、8 mm）；應(yīng)用順滑螺絲緊固的方法，可以對(duì)不同的樣品緊固，由于采用了金屬作為導(dǎo)體接觸電極塊，無(wú)需額外的金屬片就可以良好接觸電極導(dǎo)通。夾具可以匹配不同品牌的熱電材料分析系統(tǒng)，方便國(guó)內(nèi)用戶的使用和更替。

技術(shù)參數(shù)

·夾具材質(zhì)：不銹鋼（其它貴金屬可定制）

·夾持調(diào)節(jié)：分體式

·夾持方式：螺絲緊固

·樣品厚度：≤1.80 mm （包含底襯）

·樣品寬度：≥4.00 mm

·樣品高度：依據(jù)探針熱偶間距（4、6、8 mm）

2、視頻測(cè)距系統(tǒng) Vra

在測(cè)試熱電材料的性能時(shí)，樣品熱偶間距的精確值對(duì)電導(dǎo)率測(cè)試的準(zhǔn)確性非常重要；功率因子直接受電導(dǎo)率影響，進(jìn)而影響熱電優(yōu)值。

隨著熱偶的使用過(guò)程中， 需要不停的打磨熱偶的金屬頭， 熱偶的金屬頭和樣品的接觸點(diǎn)會(huì)不停的變化， 眼睛無(wú)法精準(zhǔn)分辨接觸點(diǎn)的實(shí)際位置，如果用游標(biāo)卡尺去測(cè)量這個(gè)間距，每個(gè)人會(huì)得出不同的數(shù)值，那么如何確保測(cè)量準(zhǔn)確的， 采用視頻法測(cè)距是目前*可靠的方法之一。

為此柯銳歐設(shè)計(jì)了視頻測(cè)距系統(tǒng)（Vra），該系統(tǒng)由專(zhuān)業(yè)相機(jī)、鏡頭和視頻軟件、背景燈、支架、USB接口等組成， 可以自動(dòng)快速、準(zhǔn)確測(cè)量出樣品熱偶的間距，消除人眼測(cè)量誤差和實(shí)際變化的固定距離帶來(lái)的誤差；配合CTA的高級(jí)軟件， 可以自動(dòng)輸入測(cè)試實(shí)驗(yàn)參數(shù)欄，方便易用的設(shè)計(jì)，滿足了CTA用戶的需求。 同時(shí)該系統(tǒng)可以配置在其它品牌的熱電測(cè)試系統(tǒng)上使用， 為國(guó)內(nèi)的熱電材料科研工作者提供服務(wù)！