粉體行業在線展覽
面議
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功能及特點
● 180mm,320mm,500mm等多種焦距可選,適應不同光譜帶寬需求; ● 光學結構采用經典的C-T結構和非球面影像校正技術,**限度了抑制了像散,使得離軸信號能夠在焦平面上匯聚于空間上的同一位置,獲得了清晰的成像,從而提高了信號強度,提升了光譜儀信號收集的能力; ● 多光柵塔臺設計,更好的發揮了儀器覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍的優勢,并可根據需要更加靈活的選擇光譜范圍和分辨率; ● 光柵采用40×40mm或68×68mm(68×84mm)大面積光柵,提高了光收集效率; ● 適應不同光譜波段使用的光柵選擇,覆蓋UV-IR全波段范圍;針對紅外(>1um)波段的**化設計,光學鏡片采用鍍金膜設計,提高紅外光反射效率; ● 更好的雜散光抑制比,達到1×10-5; ● 儀器的控制(如光柵轉換、波長掃描等)全部由計算機控制,并用USB2.0接口取代傳統的RS-232接口,不僅使儀器的連接更加簡單化,更極大提高了通訊速率; ● 采用DSP芯片控制設計使得多出入口的選擇更加具有靈活性,可根據需要選 |
擇雙入、出口;雙入、出口的控制通過計算機軟件自動控制,定位更精準; ● 可靈活與卓立光源、探測器(單點探測器和陣列CCD等)組合搭建,實現任 意光譜系統解決方案,如熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發射光 譜系統等。 ● 電子快門可選 ● 自動狹縫可選 |
Omni-λ180i | Omni-λ320i | Omni-λ500i | Omni-λ750i | |
焦距(mm) | 180 | 320 | 500 | 750 |
相對孔徑 | f/4 | f/4 | f/6.5 | f/9.7 |
光學結構 | C-T | |||
機械掃描范圍(nm) | 0-1200 | |||
分辨率(nm)-PMT | 0.25 | 0.08 | 0.05 | 0.028 |
分辨率(nm)-CCD(26μm) | 0.35 | 0.21 | 0.15 | 0.09 |
倒線色散(nm/mm) | 3.7 | 2.3 | 1.7 | 1.1 |
波長準確度(nm) | ±0.2 | ±0.15 | ±0.1 | |
波長重復性(nm) | ±0.1 | ±0.08 | ±0.01 | |
掃描步距(nm) | 0.01 | 0.005 | 0.0025 | |
雜散光 | 1×10-5 | |||
焦面尺寸(mm) | 30(w)×10(h) | 30(w)×14(h) | ||
光軸高度(mm) | 146.5 | |||
狹縫規格 | 縫寬:0.01-3mm連續手動可調,可選配自動狹縫; 縫高:2,4,10,14mm可選 | |||
光柵尺寸(mm) | 40×40 | 68×68 | ||
光柵臺 | 雙光柵 | 三光柵 | ||
通訊接口 | 標配USB2.0,可選RS-232 |
LUMiFlector
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Metorex C100型
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