粉體行業在線展覽
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必達泰克光電科技（上海）有限公司
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QuestTM U是專為紫外檢測應用而優化的光譜儀。它采用獨特的低雜散光光路，具有UV波段低雜散光的特點，采用增強響應的2048元線性CCD陣列檢測器，內設溫度補償，適合于紫外和可見范圍的光譜檢測應用。
QuestTM U內設溫度補償，使熱漂移降低至～15計數值/oC， 從而有效地降低了基線漂移，穩定了動態范圍。
QuestTM U內建16位數字轉換，標配采用USB2.0高速數據傳輸，高于2.0MHz讀出速度，也可做成增強的串口RS232傳輸，包含外觸發和同步功能，便于系統集成和開發。
QuestTM U的標準波長范圍為200-400nm和200-850nm可選，也可為客戶應用需要而提供定制服務。
產品特點：
熱漂移～15計數值/℃
紫外波段低雜散光
紫外及紫外/可見波長范圍
0.3nm光譜分辨率
16位數字轉換
小1ms積分時間
2.0MHz讀出速度
即插即用USB2.0接口
電源輸入 | USB@0.35A |
檢測器類型 | 響應增強線性CCD陣列 |
像元尺寸 | 2048@14um*200um |
光譜儀F/# | 3.6 |
光路 | Czerny-Turner |
動態范圍 | 1300:1 |
數字分辨率 | 16-bit or 65535:1 |
讀出速度 | >2.0 MHz |
數據傳輸速度 | 480張光譜/秒 |
積分時間 | 1-65535ms |
熱漂移 | ~29 Counts/℃(Max) |
觸發模式 | 外觸發 |
操作溫度 | 5-35℃ |
操作濕度 | 85%無冷凝 |
重量 | ~0.37kg |
尺寸 | 124*91*35mm |
電腦接口 | USB 1.1，USB 2.0，RS232（選配） |
操作系統 | Windows：XP， 7，8，10(32位或64位) |
技術詳情：
光路：
狹縫：
| 狹縫 | 尺寸（寬*高） | 分辨率 200-400nm |
| 10um | 10um*1mm | ~0.4nm |
| 25um | 25um*1mm | ~0.6nm |
| 50um | 50um*1mm | ~1.0nm |
| 100um | 100um*1mm | ~1.6nm |
| 200um | 200um*1mm | ~3.0nm |
光柵：
| 響應 | 光譜范圍nm | 光柵 |
| 紫外 | 200-400 | 1800/250 |
| 紫外-近紅外 | 200-850 | 600/250 |
應用:
紫外可見近紅外光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析及應用
波長檢測
吸光度測量
反射率測量
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
Metorex C100型
全譜直讀光譜儀
UV9600D
ARL? QUANT'X EDXRF
