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三維熒光及吸收光譜儀 250nm-1100nm

生產商：HORIBA Instruments Inc.

產地：加拿大

品牌：HORIBA

型號：Duetta

A-T EEM 給您真實的熒光光譜，給你意想不到的使用體驗。

注：內濾效應（Inner filter effect）是測試熒光發射時候，由于發光體對激發光的無效吸收或發射光的自我吸收導致的發光強度和濃度的非線性情況；導致濃度差異的發光峰位漂移、強度和濃度不對應、多組分（多峰位）分析變形等情況。消除內濾效應，可以擴展濃度的線性區間，包括多組分和多波長分析，其定量意義特別重要。

keyword：近紅外熒光，多組分熒光定量，三維熒光，內濾校正

一、功能：

*1、同時采集熒光發射光譜+吸收光譜（自動內濾校正）。

2、熒光激發光譜+吸收光譜（自動內濾校正）。

3、定點熒光強度數值和吸收數值采集（自動內濾校正）。

4、熒光動力學測試（全譜時間動態掃描-時間三維光譜，單點強度動態采集）。

5、吸收采集（吸光度和透射率）（光譜和動態數據）。

6、出廠隨機帶有光譜校正文件。

7、升級軟件專用功能：Protein A280；RNA/DNA Purity A260/280；Concentration from Absorbance；PLQY；FRET；Ion Kinetics；CIE Colorimetry；Enzyme Kinetics。

二、技術參數：

1、數據采集模式：同時獲得吸收熒光數據的熒光光譜儀

*2、熒光靈敏度：SNR≥6，000:1 （水拉曼信噪比，350nm激發，5nm帶寬）。

3、光譜采集速率：≥510，000nm/min。

4、EEM-3D 三維光譜采集速率：快至≤1秒（和波長間隔設置相關）。

5、光源：75W 氙燈（無需工程師協助的預準直的卡槽更換）

*6、同時采集吸收-激發-發射-熒光強度（A-TEEM）光譜速率：≤30秒（和波長間隔設置相關）。

*7、激發光譜及吸收光譜范圍：250-1000nm。

8、熒光模塊：

*8.1、熒光檢測器：CCD 陣列探測器。

8.2、熒光檢測范圍：250-1100nm；

8.3、熒光測試光譜帶寬：1， 2， 3， 5，10， 20 nm (激發和發射側)。

8.4、波長準確性：≤±1nm。

9、吸收部分：

9.1、吸收檢測器：硅光電二極管。

9.2、吸收檢測范圍：250-1100nm。

9.3、吸收測試光譜帶寬：2， 3， 5， 10 nm。

9.4、吸收值準確性：≤±0.02 A。

9.5、吸收測試量程：0-2A。

10、具備報告生成器功能（PDF格式）：

10.1、包括數據列表和擬合處理結果。

10.2、測試方法內容。

10.3、2D 3D的圖譜。

10.4、儀器和操作者確認信息。

10.5、自定義logo。

10.6、自定義簽名區域。

10.7、全部數據和方法可追溯性。

三、其他

1、發貨期：簽訂合同后3個月內。

2、保修期：驗收后1年。

3、培訓：用戶現場培訓。