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產(chǎn)品型號(hào)：S4 TSTAR

產(chǎn)品描述：X射線(xiàn)熒光（XRF）光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測(cè)限值低于PPb 量級(jí)

S4 TStar — TXRF的明星

       數(shù)十年來(lái)，X 射線(xiàn)熒光（XRF）光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析，檢測(cè)限值低于PPb 量級(jí)。TXRF 擴(kuò)展了XRF 的應(yīng)用范圍，可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成為原子吸收光譜法（AAS）以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）或質(zhì)譜法（ICP-MS）的理想的替代性方法。現(xiàn)在，S4 TStar 在臺(tái)式TXRF 光譜儀的性能、自控和質(zhì)量方面開(kāi)創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。

優(yōu)異的樣品通用性

S4 TStar 是一種通用性很強(qiáng)的工具，可以分析不同反射載體上的多種類(lèi)型的樣品。它的樣品通用性?xún)?yōu)于ICP。

ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。

圖一：30 毫米石英片：對(duì)液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析

圖二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究

圖三：顯微鏡載玻片：臨床和生物學(xué)樣品，直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片

圖四：矩形載體：尺寸小于54 毫米，用于膜片、濾片、納米顆粒層                            定制的反射介質(zhì)

行業(yè)應(yīng)用：

·  藥品檢測(cè)活性藥物成分中的催化元素：液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm

·  食品糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品安全標(biāo)準(zhǔn)：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。

·  環(huán)境監(jiān)測(cè)環(huán)境監(jiān)測(cè)：地表水，廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。