粉體行業在線展覽
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1001
為增強解析度讓飛行距離變的更長Spiral TOF 使用螺旋式設計， 在較小的空間下可以達到*長飛行距離， 從而可以分析到更高解析度， 分子量準確度也更高
TOF-TOF(選配)-也可以加強解析度及準確度選擇二次串聯螺旋飛行質譜TOF-TOF 做結構分析雙重質譜MS/MS
Linear TOF(選配)-可以做更高分子量如蛋白質
螺旋飛行質譜儀使用特殊離子化方式MALDI 基質輔助雷射脫附法（Matrix Assisted Laser Desorption Ionization）
Spiral TOF-TOF特點
1.高分子量， 高解度， 高準確度
2.高精準選擇離子單一同位素分析
?長距離飛行解析度非常高
?由離子源到離子閘門距離15~17公尺
3.消除PSD衍生離子
4.高能量碰撞誘導解離-20 keV 實驗室瞬間碰撞能量HE-CID分離高活化能鍵結， 自然單一碰撞重復性高
5. 一次觀察所有離子
6. 可以測到 m/z幾乎大分子物質都可用Spiral Mass
500，000，
?Linear TOF
離子源與檢測器之間有 1.2 m是自由空間
適合高分子量物質如蛋白質或高分子
所有離子從加速後都被偵測
可以測到m/z 500，000
幾乎大分子物質都可用Spiral Mass
解析度 | 60，000 (ACTH fragment 1-17?M+H?+: m/z 2093.1) |
質量解析度 (internal reference) | 1 ppm (average error) |
質量準確度 (external reference) | 10 ppm (average error) |
靈敏度 | 500 amol， S/N > 50 with standard stainless steel plate |
雷射 | Wavelength 349 nm (maximum 250 Hz) |
應用領域
蛋白質
高分子合成
BELMASS II
BSD-MASS
Master 400
BELMASS
ZQJ-3000型
L820
HESZKAT800
EXPEC 5231
ICP-MS 2000系列
熱分析 - 四極桿質譜儀 QMS 403 Aёolos? Quadro 聯用
DEMS
Master 400 質譜儀
