粉體行業在線展覽
面議
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納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。
晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算:
Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向
β:hkl晶面的半高寬(或展寬)
θ:hkl晶面的bragg角度
λ:入射X光的波長,一般Cu靶為1.54埃
K:常數(晶粒近似為球形,K=0.89;其他K=1)
實例納米TiO2晶粒尺寸14nm
Revontium
N80
VANTA
ScopeX PILOT
逸出功能譜儀
SAXSpoint 700
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列