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PROTO AXRD臺式X-射線衍射儀是易于使用，并提供準確、可靠的測量結果與類似的速度全尺寸實驗單位。配備強大的混合光子計數探測器，AXRD臺式X-射線衍射儀具有極快的數據收集能力。低分辨率掃描數據收集只需3min，高分辨率掃描數據收集只需15-30min。令人難以置信的低角度性能，優秀的峰值低至1^o。

600W 的x射線的力量，完全可以實現的應用解決峰值：< 0.05°2θ角精度的<±0.02°Δ2θ全角范圍，AXRD臺式，提供了一個低成本替代粉末衍射，同時保持所有必要的性能，即使是*苛刻的x射線衍射材料調查。

無論你是做階段識別、定量分析或結構分析AXRD臺式帶給你多年的方便和價值在一個緊湊的，易于維護系統。

優秀的分辨率，準確性和數據質量

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優秀的分辨率，準確性和數據質量

六硼化鑭

二十二酸銀鹽

***的x射線探測器

DECTRIS®混合光子計數探測器——高速數據采集

- 640通道高速固態線性探測器。

-同時多個通道集合使集合的速度比a快100倍。閃爍計數器

-使用硅片技術直接檢測x射線。

—全球1 x10 ^ 9計數的計數率/ s

-高速采集時間。

- 32毫米x8毫米傳感器區域。

-優良的信噪比和非常高的動態范圍。

-熒光抑制模式

SPD硅點探測器- XRD和XRF在一個方便的包中。

-能量甄別單通道固態探測器。

-推薦用于高熒光的樣品(例如Fe和Co)

-不需要衍射光束單色器。

—Kβ抑制功能

—粉使用Kα1模式集合，2或Kβ

-使用XRF頻譜來協助樣品的化學鑒定，并改善搜索結果。

優異的精確性

我們的全合一軟件對粉末模式的數據采集和分析是基本定性和定量分析的**解決方案。XRDWIN的一些獨特的功能包括:儀器預熱和控制、數據采集、k-alpha 1和k-alpha 2分離、數據平滑、集成強度、背景擬合、峰搜索、峰擬合、強度比方法定量分析、尖峰法定量分析、晶粒尺寸和應變。另外還有ICDD數據庫搜索匹配和MDI Jade接口。我們提供無限的軟件支持。