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上海魅宇儀器設備有限公司
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GT8102涂層測厚儀以優良的品質和完善的服務，在廣大客戶中贏得了良好的聲譽。需詳細了解，或登陸網站，在產品搜索框里填上產品名稱即可。魅宇人懷著與客戶同發展的理念，竭誠歡迎廣大客戶蒞臨指導，共創輝煌！上海魅宇產品遍布全國各地，并出口馬來西亞、土耳其、埃及、日本、越南、美國等國家。
GT8102涂層測厚儀功能：
■采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
■可采用兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
■操作過程有蜂鳴聲提示；
■電池電壓指示：低電壓提示
■自動關機
■測量方法：F磁感應 NF渦流
特點：
■采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度；
■可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正，保證儀器在測量過程中儀器的準確性；
■能快速自動識別鐵基體與非鐵基體
■具有電源欠壓指示功能
■操作過程有蜂鳴聲提示；
■設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
■有負數顯示功能，保證儀器在零位點的校準準確性；
■微功耗設計，在待機裝態不到10微安的電流。
測量原理：
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a)磁性法(F型測頭)
當測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。
b)渦流法(N型測頭)
利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
產品型號：GT8102
雙功能技術的測厚儀，完成磁感應和電渦流測量自動轉換
應用雙功能測量技術，能夠自動識別磁性或非磁性底材，然后采用相應的測試方法，適用于各種測量環境。可測量非磁性底材上的非導電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術參數完全符合國家標準。該測厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業的儀器。
Fe質探針可檢測磁性金屬如鋼、鐵上的所有非磁性涂層厚度，例如油漆層、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、琺瑯、氧化層，瓷、搪瓷防護層，包括鎳、鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層等非磁性涂層。
NFe質探針可檢測如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上所有絕緣涂層厚度，例如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的琺瑯、橡膠、油漆，瓷、塑料涂層及陽極氧化膜等。
附件：
■標準片4片：50um、100um、250um、500um(選配：12um、25um)
■基體2塊(GT8102塊基體)
■電池2塊
■清潔布1塊
■說明書1份
■保修卡1張
影響因素的有關說明：
a)基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b)基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c)基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d)邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
e)曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f)試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
g)表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
h)磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
i)附著物質
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
j)測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
k)測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。
技術參數：
■測量范圍：0~1250um(標準量程)其它量程可定制
■分辨率：0.1/1
■*小曲面:F:凸5mm/凹5mm
■*小測量面積：10mm
■*薄基底：0.3mm
■使用環境：溫度：0~40℃濕度：10~85%RH
■準確度：±(1.5～3%h)或±2um
■公制/英制：可轉換
■機身尺寸：102mm×66mm×24mm
■電源：2節5號電池
■重量：99g(含電池)
符合標準：
■GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
■GB/T4957─1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
■JB/T8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀
■JJG889─95《磁阻法測厚儀》
■JJG818─93《電渦流式測厚儀》
