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產品簡介

新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術與先進的檢測儀器功能相結合，提供**的重復性、準確性和重現性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質量，利用國際標準的沉降法測量粒度，無需建模。該產品的技術已成為全球造紙、陶瓷、磨料等數個行業的金色標準。

技術特點

· 檢測范圍：0.1 到300 μm

· 全顆粒度測試，無需建模

· 選配的MasterTech 052自動進樣器提供多至18個樣品的自動進樣，無需人為介入

產品應用

適合于各種無機材料顆粒大小的分析研究尤其是非金屬礦物，例如：高嶺土、重鈣、輕鈣、粘土、泥漿等材料的分析，是高嶺土，重鈣，輕鈣粒徑的標準分析儀器。