粉體行業在線展覽
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BK
直接聯系
北京精微高博比表面儀
北京
面議
精微高博
BK
4371
比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結構的重要參數之一，*常用、*可靠的方法是靜態容量法氣體吸附。JW-BK基礎型系列全自動比表面及孔徑分析儀即能準確可靠解決粉體材料比表面積及孔徑分析問題，根據測試功能不同可區分為JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三種型號，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr壓力傳感器，配合二級吸附泵技術，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔徑分布需求。
低溫條件下（液氮或液氬等），在密閉的真空系統中，改變吸附質氣體壓力，通過高精密壓力傳感器測量出樣品吸附氣體分子前后的壓力變化值，進而計算出氣體吸附量，描繪出等溫吸脫附曲線，應用各種物理分析模型進行比表面積及孔隙度分析。
孔徑范圍：0.35nm-500nm
比表面范圍：0.0005㎡/g-無上限
孔徑重復精度：≤0.02nm
比表面重復精度：≤±1%
JW
JW-ZQ系列 靜態容量法蒸汽吸附儀
YG-23A 電容式壓汞儀
JW-BK基礎型 比表面及孔徑分析儀
HX 100 型 全自動程序升溫化學吸附儀
AMI-300Neo 全自動程序升溫化學吸附儀
3P mixSorb 系列 競爭性吸附分析儀（穿透曲線）
JW-MIX100 穿透曲線與傳質分析儀
JW-M100A系列 全自動真密度測試儀
TMA 800 型 熱機械分析儀
TGA 系列 熱重分析儀
Master 400 質譜儀
BSD-660
JB-5
JW-DX
miniX
F-Sorb 2400
ASAP 2420系列
Acorn
FT-301系列
GCTKP-700
JT-2000P3
Autosorb-iQ
BELSORP MINI X
