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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

ISO13322-1:   2004; GB/T21649.1-2008

顯微系統(tǒng)

物鏡

4X、10X、40X、60X、100X（油）長(zhǎng)距消色差（平場(chǎng)）物鏡組

目鏡

1X、10X、16X 大視野攝像目鏡

載物臺(tái)

手動(dòng)三維機(jī)械式載物臺(tái)，尺寸：185mm×140mm，

移動(dòng)范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦，

微動(dòng)格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源，6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）

總放大倍數(shù)

4倍——1600倍

攝像系統(tǒng)

**分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

**清晰度

900線

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實(shí)際觀測(cè)范圍

1-6000μm

軟件功能

靜態(tài)采集

將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片

圖片處理

使用多種畫圖工具對(duì)圖片進(jìn)行比較簡(jiǎn)單的處理

圖像拼接

將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測(cè)試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測(cè)試的代表性。同時(shí)也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接，進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。

顆粒的自動(dòng)處理工具集

自動(dòng)消除顆粒粘連、自動(dòng)消除雜點(diǎn)、自動(dòng)消除邊界不完整顆粒、自動(dòng)填補(bǔ)顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。

比例尺標(biāo)定

通過國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微尺標(biāo)定后，每次測(cè)試只須選擇與物鏡相對(duì)應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。

單個(gè)顆粒數(shù)據(jù)

可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長(zhǎng)徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析。

任務(wù)管理機(jī)制

嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制，使用戶能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。

報(bào)告輸出

將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告，并可以自由修改報(bào)告樣式。

整體分布特征參數(shù)

D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)

報(bào)告參數(shù)

整體頻率分布累計(jì)分布

顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。

統(tǒng)計(jì)平均徑

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑

形狀參數(shù)

長(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù)

個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)

直接得到所觀測(cè)的顆粒數(shù)量

樣品縮略圖

可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報(bào)告中

表頭輸入

可以將樣品名稱、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中