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Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案

儀器型號：PSS Nicomp N3000 Plus

工作原理：動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

檢測范圍： 0.3nm-10.0μm

      Nicomp N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。