粉體行業在線展覽
Xplore TEM
面議
牛津
Xplore TEM
2325
Xplore TEM是專門為120kV和200kV 透射電鏡(TEM)的常規應用而設計的元素分析系統。使用新的 80mm2 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測
可在200,000cps的計數率下進行定量分析
SATW窗口為廣泛的應用提供了極大的便利性
2830 ZT
ON-p
EMIA-Pro
XPERT
K-365
HL-N20
TrueX系列(手持式)
在線銅離子含量分析儀
Metorex C100
SUPEC 7020
A-380
CPG2/CPG2S