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簡(jiǎn)介

美國(guó)應(yīng)用光譜公司 (Applied Spectra Inc.)專注研究激光剝蝕和光譜分析技術(shù)的高技術(shù)公司。 研發(fā)人員均為美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的研究人員。 公司總裁Richard Russo 博士為美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的資深科學(xué)家， 從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術(shù)三十多年， 創(chuàng)造性的將激光剝蝕技術(shù) (Laser Ablation， LA) 及激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (Laser Induced Breakdown Spectroscopy， LIBS)相融合， 研發(fā)了J200系列激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)及光譜分析系統(tǒng)。

J200 納秒激光剝蝕進(jìn)樣及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時(shí)測(cè)量，并具備多種測(cè)量功能： 可測(cè)量常量， 微量和同位素 (與ICP-MS串聯(lián))；分析有機(jī)元素及輕元素； 元素三維空間分布；校正ICP-MS質(zhì)譜信號(hào)。主要用于地質(zhì)礦物，土壤，植物，合金，新能源材料 (例如鋰電池材料)， 刑偵證據(jù)等樣品的剝蝕進(jìn)樣及化學(xué)成分分析。

J200 LA 激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)可與市面上的四級(jí)杠質(zhì)譜儀， 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀和高分辨質(zhì)譜儀串聯(lián)使用。

J200 LA 激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)特色

高穩(wěn)定Q開關(guān)， 短脈沖Nd:YAG 激光 ，可選擇多波長(zhǎng) < 5 nsec at 213 nm ，創(chuàng)新的模組化設(shè)，為獨(dú)立 LA， LIBS， LA - LIBS 復(fù)合的系統(tǒng)設(shè)計(jì) ，因分析需求，提供三種LIBS 檢測(cè)器選擇 ，激光剝蝕均勻且一致性的LA系統(tǒng)

自動(dòng)樣品高度調(diào)整功能

J200激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)采用ASI**技術(shù)：剝蝕導(dǎo)航激光和樣品高度自動(dòng)調(diào)整傳感器相結(jié)合，解決了若樣品表面凹凸不平而剝蝕不均、導(dǎo)致元素含量值誤差大的問題；激光能量穩(wěn)定閥確保了到達(dá)樣品表面的激光能量均勻，使所有采樣點(diǎn)的激光燒蝕均勻一致；3-D全自動(dòng)操作臺(tái)**行程可達(dá)100mmx100mmx36mm，XY行程分辨率0.2μm，Z行程分辨率0.1μm， 優(yōu)于其它任何同類產(chǎn)品

穩(wěn)定激光能量的光閘設(shè)置

高分辨雙CMOS相機(jī)系統(tǒng)， 可用于寬視野觀測(cè)樣品表面特征 應(yīng)用光譜公司的 Flex 樣品室內(nèi)置氣體模組可優(yōu)化氣流和顆粒清潔能力，滿足不同測(cè)量要求，先進(jìn)的微集氣管設(shè)計(jì)，可盡可能的減少排氣，防止集結(jié)剝蝕顆粒，消除記憶影響。

雙通道高精度質(zhì)量流量控制器和電子控制閥

Axiom LA 軟件系統(tǒng)

軟件可整合控制硬件組件及ICP-MS 同pu步操作，輕松實(shí)現(xiàn)繁雜的激光采樣與分析模式 ，強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析工具用于繁雜的 LA-ICP-MS 串聯(lián)光譜分析

靈活的分析方法：全分析，夾雜物分析，斑點(diǎn)分析，深度分析和元素分映像

維護(hù)成本低

可擴(kuò)充升級(jí)LA – LIBS 復(fù)合系統(tǒng)

可擴(kuò)充升級(jí)飛秒 LA 系統(tǒng)