粉體行業在線展覽
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HF5000
直接聯系
日立高新技術公司.
日本
1-5萬元
日立
HF5000
20274
無
1、高度自動化球差校正，盡量減少人員介入，適用于繁忙的分析測試中心或設備平臺;
2、三位一體呈現(TEM、STEM、SEM)，內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取;
3、EDS超大球面角，無窗口探頭?？蓪崿F快速，高靈敏度化學成分分析;
4、前瞻性平臺總體設計，為性能擴增預留選項，例如可擴增為氣體環境電鏡。
HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
參考報價：
面議 | 型號： | HF5000 | |
| 品牌： | 日立 | 產地： | 日本 |
| 樣本： | 【暫無】 | 信息完整度： |    |
| 典型用戶： | 0 |
| 放大倍率： | TEM（x200~x4,000,000）, STEM（x20~x4,000,000）, | 加速電壓： | **200kV |
| 分辨率： | 0.078nm（DF-STEM），0.1nm（TEM lattice），0.23nm（TEM point） | 價格區間： | 3000萬-3500萬 |
| 儀器種類： | 場發射 |
具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃；可配置EDS雙探頭，固體角**可達2.0sr；具備TEM、STEM，SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性。
產品簡介
日立發布的200kV球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃；可配置EDS雙探頭，固體角**可達2.0sr；具備TEM、STEM，SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性......HF5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
特點：
1、高度自動化球差校正，盡量減少人員介入，適用于繁忙的分析測試中心或設備平臺;
2、三位一體呈現(TEM、STEM、SEM)，內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取;
3、EDS超大球面角，無窗口探頭?？蓪崿F快速，高靈敏度化學成分分析;
4、前瞻性平臺總體設計，為性能擴增預留選項，例如可擴增為氣體環境電鏡。
參數配置：
場發射掃描電鏡 SEM5000
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
Veritas
Transcend II
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
