粉體行業在線展覽
煤炭行業專用儀器
安全防護用品
電化學儀器
儀器專用配件
光學儀器及設備
試驗機
X射線儀器
常用器具/玻璃耗材
氣體檢測儀
應急/便攜/車載
動物實驗儀器
臨床檢驗儀器設備
微生物檢測儀器
芯片系統
泵
分離/萃取設備
恒溫/加熱/干燥設備
清洗/消毒設備
液體處理設備
制樣/消解設備
磁學測量儀器
燃燒測定儀
無損檢測/無損探傷儀器
半導體行業專用儀器
紡織行業專用儀器
金屬與冶金行業專用儀器
專用設備
石油專用分析儀器
橡塑行業專用測試儀
3D打印機
環境試驗箱
電子測量儀器
工業在線及過程控制儀器
生物耗材
相關儀表
波譜儀器
輻射測量儀器
水質分析
成像系統
分子生物學儀器
生物工程設備
細胞生物學儀器
植物生理生態儀器
純化設備
合成/反應設備
氣體發生器/氣體處理
實驗室家具
制冷設備
測厚儀
測量/計量儀器
實驗室服務
其他
包裝行業專用儀器
建筑工程儀器
鋰電行業專用測試系統
農業和食品專用儀器
危險化學品檢測專用儀器
藥物檢測專用儀器
產品>
分析儀器設備>
>亞帶隙測量系統半導體材料能帶測試
直接聯系
上海沃埃得貿易有限公司
日本
面議
1269
半導體材料能帶測試，亞帶隙測量系統
該系統采用恒定光電流法分析半導體薄膜和各種光導材料的帶隙結構，是評價非晶硅和各種非晶半導體的理想方法。
規格：
原理:恒流法(CPM)
光源:氙燈或鹵素燈
工作范圍:約4小時，13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)
輻照面積:6 x6mm
輻照強度:2 nw-2mw
產品咨詢
請填寫您的姓名：*
請填寫您的電話：*
請填寫您的郵箱：*
請填寫您的單位/公司名稱：*
請提出您的問題：*
您需要的服務：
中國粉體網保護您的隱私權：請參閱 我們的保密政策 來了解您數據的處理以及您這方面享有的權利。 您繼續訪問我們的網站，表明您接受 我們的使用條款
燃料電池測試專用系統
金屬納米顆粒制備
彈性模量測試儀
機器人TCP標定系統
掃描開爾文探針系統
穆斯堡爾譜儀
TH-F120
BL-GHX-VK
線性壓電納米位移臺MF40-25A
ParticleX TC
觀世
在線濁度計
SuperSEM N10
SLS-LED-80B
SCI300
SJ6000
CELL PAT
© 2025 版權所有 - 京ICP證050428號
