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主要特點：

1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。

2.在高激發強度以及樣品臺的快速移動情況下，仍可實現快速檢測。

3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內，根據樣品結構及所需空間分辨率調整到相應的尺寸。

4.采用布魯克先進的XFlash®硅漂移探測器，該探測器具有很高的計數率能力，在很寬的計數率范圍內擁有良好的能量分辨率。

5.電路為用戶提供X射線輻射風險防范措施。

6.超聲波測距措施可以防止儀器與被測樣品發生碰撞。

7.由于M6 JETSTREAM的可移動性，不論樣品結構如何，它都可以很容易的準確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于攜帶。

行業應用：

文物分析——能夠現場原位分析樣品，使用戶免去了搬運樣品的麻煩，同時避免了在搬運中對文物可能造成的損壞。

地球科學——可分析大鉆芯樣或者其他礦物樣品。

故障分析——可用于大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析，以及其他感興趣的問題。