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X-Ray熒光測(cè)厚儀，通過X射線原理，是目前*方便快捷的鍍層測(cè)厚方法，產(chǎn)品無須破壞，約20秒完成測(cè)量整個(gè)過程。博曼測(cè)厚儀，2009年，位于美國芝加哥的團(tuán)隊(duì)，創(chuàng)立了博曼Bowman，在原CMI的基礎(chǔ)上，研發(fā)更名為博曼，更為高端的精密XRF鍍層測(cè)厚儀。2012年發(fā)布了全新BA-100系列機(jī)型，使用SDD探測(cè)器技術(shù)XRF系統(tǒng)，是**性價(jià)比機(jī)型。美國博曼鍍層測(cè)厚儀，也叫膜厚儀，源自于CMI牛津團(tuán)隊(duì)，2018年博曼發(fā)布了全球*小光斑7.5um FWHM的多導(dǎo)毛細(xì)管機(jī)型，完善了從經(jīng)濟(jì)型號(hào)到端型號(hào)的系列產(chǎn)品線，團(tuán)隊(duì)深耕XRF鍍層測(cè)厚儀事業(yè)三十余年，曾經(jīng)創(chuàng)立了測(cè)厚儀全球知名的CMI品牌，具有代表性的機(jī)型。