粉體行業(yè)在線展覽
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優(yōu)尼康科技有限公司
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1018
F10-HC薄膜厚度測量儀
**有價格優(yōu)勢的先進薄膜測量系統(tǒng)
以F20平臺為基礎所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件特有的先進模擬演算法的**設計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。
前所未見的簡易操作界面
現(xiàn)在，具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用，這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁)，并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結果是否有效，并將測量的結果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。
不需要手動基準校正
F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準矯正以及設置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。
背面反射干擾
背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學技術的挑戰(zhàn)，具有F10-HC系統(tǒng)的獨特接觸式探頭能將背面反射干擾的影響zui小化，使用者能以較高的精zhun度來測量涂層厚度。
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
• 桌面式薄膜厚度測量的全球**者
• 24小時電話，E-mail和在線支持
• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件
附 加 特 性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費離線分析軟件
• 精細的歷史數(shù)據功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結果
