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SAM 大視場(chǎng)掃描系統(tǒng)
面議
PVA TePla
SAM 大視場(chǎng)掃描系統(tǒng)
461
SAM大視場(chǎng)系列是專門為分析DCB’s或電源模塊而開發(fā)的產(chǎn)品系列,可支持檢測(cè)掃描范圍為300μm x 300μm到1300mm x 1300mm。多至8個(gè)傳感器可實(shí)現(xiàn)超高檢測(cè)通過率。該系統(tǒng)包括自動(dòng)缺陷審查軟件、GEM/SECS通訊,以及MES通訊。
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