粉體行業(yè)在線展覽
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上海瞬渺光電技術(shù)有限公司
荷蘭
面議
1111
荷蘭SunLab Corescan、Sherescan測(cè)試系統(tǒng)
針對(duì)網(wǎng)印，燒結(jié)制程優(yōu)化的**工具
針對(duì)擴(kuò)散發(fā)射極方塊電阻生產(chǎn)高效率電池片，提高良率**工具
1、通過(guò)CoreScan掃描Rs，可以得到整個(gè)電池片的串聯(lián)電阻分布圖。從而判斷影響此因素的原因，如：燒結(jié)溫度過(guò)高過(guò)低、磷硅玻璃是否去除干凈，發(fā)射層是否平整均勻，電極是否有虛印、斷線等等。
2、 通過(guò)ShuntScan掃描Rsh，可以得到整個(gè)電池片的并聯(lián)電阻分布圖。判斷影響此項(xiàng)參數(shù)的原因，如：銀鋁漿對(duì)正表面的污染、刻蝕不足、過(guò)燒以及SiC層結(jié)是否有階梯等問(wèn)題。
3、 通過(guò)VocScan掃描Voc，可以得到開(kāi)壓分布圖。判斷影響此項(xiàng)參數(shù)的原因，如：BSF的均勻性、原材料的均勻性等。
4、 通過(guò)LBIC Scan，得到電流分布圖。可以判斷：原材料缺陷，也可以說(shuō)明鈍化或是鍍膜效果。
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