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Leica 三離子束切割拋光儀
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上海進(jìn)與科學(xué)儀器有限公司
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進(jìn)與科學(xué)
Leica 三離子束切割拋光儀
1559
LEICA三離子束切割儀
可以靈活選擇多種樣品臺(tái)，不僅適用于高通量實(shí)驗(yàn)，也適合于特定制樣需求實(shí)驗(yàn)室。依據(jù)您具體需求，每一臺(tái)Leica EM TIC 3X都可裝配多種可切換樣品臺(tái)，如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)，三樣品臺(tái)，旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)，應(yīng)用于常規(guī)樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度極敏感樣品制備。其與Leica EM VCT環(huán)境傳輸系統(tǒng)相連接，可以實(shí)現(xiàn)將冷凍的生物樣品表面受保護(hù)地被真空冷凍傳輸進(jìn)入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡Cryo-SEM中，或者應(yīng)用于地質(zhì)或工業(yè)材料樣品，實(shí)現(xiàn)真空傳輸。
空氣環(huán)境中，再直接被轉(zhuǎn)移進(jìn)入后續(xù)步驟技術(shù)手段。例如進(jìn)Leica EM ACE600進(jìn)行鍍膜，和/或SEM檢測(cè)。
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Leica 三離子束切割拋光儀
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