粉體行業在線展覽
-電鏡元素分析系統
面議
牛津
-電鏡元素分析系統
1856
Ultim Max TEM,搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新設計80mm2的傳感器,進一步接近樣品并提供更多的x射線計數。UltimMax TEM結合了無窗設計和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質量數據。
· 0.2 - 0.6 srad的立體角
· 對低能量x射線的靈敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的計數率下進行定量分析
· 在原位實驗中,可在1000°C的溫度下采集譜圖
2830 ZT
ON-p
EMIA-Pro
XPERT
K-365
HL-N20
TrueX系列(手持式)
在線銅離子含量分析儀
Metorex C100
SUPEC 7020
A-380
CPG2/CPG2S