粉體行業(yè)在線展覽
粉體行業(yè)在線展覽
Phenom Pro
直接聯系
復納科學儀器（上海）有限公司
荷蘭
面議
飛納
Phenom Pro
19995
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
粉末冶金
第六代 Phenom Pro 放大倍數提升為 350,000 倍，分辨率優(yōu)于 6 nm，30 秒快速得到表面細節(jié)豐富的高質量圖像，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優(yōu)點。
飛納高分辨率專業(yè)版 Phenom Pro 可選配豐富的拓展功能選件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（FiberMetric）、孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（PoreMetric）、顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)（ParticleMetric）、超大視野拼圖（Auto Image Mapping）、遠程操作等。軟件可以自動采集數據、處理圖片。比如，纖維統(tǒng)計測量系統(tǒng)可以自動識別、測量纖維樣品，而大視野拼圖 則自動采集生成高分辨、大視野的樣品全景照片，等等…
除此之外，還有各種各樣的樣品杯可供選擇，這些樣品杯使得樣品的裝載更加便利。無論是對于長軸狀樣品，還是生物材料，或者其它種類的材料，總有一款合適的樣品杯可以提供**的解決方案。
Phenom Pro 主要技術參數
| 光學放大 | 20 - 135 X |
| 電子放大 | 350,000 X |
| 分辨率 | 優(yōu)于 6 nm |
| 光學導航相機 | 彩色 |
| 加速電壓 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續(xù)可調 |
| 探測器 | BSD, SED (可選), EDS |
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片，并生成報告。借助該軟件，用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數據。憑借遠超光鏡的放大倍數，顆粒軟件全自動化的測量，可以把工業(yè)粉末的設計、研發(fā)和品管提升到一個新臺階。
借助顆粒系統(tǒng)軟件，用戶可隨時獲得數據。因此，它加快了分析速度，并提高了產品質量。
臺式掃描電鏡在粉末冶金領域的應用
1. 粉體形貌、粒度觀察（<10000×，低壓 SED）
2. 粉體粒度統(tǒng)計（使用飛納電鏡軟件-顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)）
3. 燒結件缺陷檢查（使用飛納電鏡軟件-超大視野自動全景拼圖）
4. 成品表面質量檢查+雜質判定（掃描電鏡+能譜）
5. 脫脂前后形貌觀察
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
Veritas
Transcend II
略
美國Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
