粉體行業(yè)在線展覽
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TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
直接聯(lián)系
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
荷蘭
100-150萬元
DENSsolutions 原位樣品桿
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
5150
DENSsolutions 總部位于荷蘭，專注于提供先進的原位電子顯微鏡( In-situ TEM)解決方案，致力于開發(fā)創(chuàng)新的實驗平臺和設(shè)備，使研究人員能夠在電子顯微鏡下模擬多種實際工作條件，從而實時觀察和分析材料的性質(zhì)和行為。
DENSsolutions 系列產(chǎn)品在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，研究人員可以利用這些設(shè)備進行材料結(jié)構(gòu)、相變、生長過程、電化學(xué)反應(yīng)等方面的原位觀察，在材料性能、催化、電化學(xué)，納米技術(shù)和材料合成等許多領(lǐng)域都具有廣泛的應(yīng)用。
產(chǎn)品選型
01 Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿
Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿是 DENSsolutions 全新升級創(chuàng)新的原位解決方案，可以在冷卻或加熱樣品的同時，對其施加可控的電學(xué)刺激，并以原子級分辨率在透射電鏡下觀察樣品的實時動態(tài)過程。
主要性能參數(shù)
1 | 系統(tǒng)操控模式：冷凍&加電，加熱&加電 |
2 | 可運行的溫度范圍：≤ -160 ℃ - 800 ℃ |
3 | 冷凍方式：外置液氮罐 |
4 | 冷卻和穩(wěn)定時間：≤ 60 min |
5 | 分辨率：≤ 1 ?（取決于透射電子顯微鏡配置） |
6 | 可達到的電流范圍：1 pA - 100 mA |
02 Lightning TEM 原位熱電樣品桿
Lightning 原位熱電樣品桿可在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時觀察樣品變化的實時動態(tài)過程。Lightning 能夠在進行熱學(xué)研究的同時，在 pA 電流靈敏度下進行 I-V 測試，其搭配的 Nano-Chip 芯片能在 900 ℃ 高溫下同時實現(xiàn)高于 300 kV/cm 的電場，芯片擁有多種配置，能夠滿足不同的實驗要求，同時保持 TEM 的原子級分辨率成像能力。
主要性能參數(shù)
1 | 溫度范圍：RT - 1,300 °C |
2 | 可達到的電場范圍：≥ 300 kV/cm at RT/900 °C |
3 | 可達到的電流范圍：1 pA - 100 mA |
4 | 可達到的分辨率：≤ 60 pm |
5 | 分辨率：≤ 1 ?（取決于透射電子顯微鏡配置） |
6 | 漂移率：≤ 0.5 nm/min |
03 Climate TEM 原位氣相加熱
Climate 原位氣相加熱樣品桿可在在氣氛環(huán)境下同時觀察樣品在加熱時的狀態(tài)變化，能夠在 2 bar 的氣體環(huán)境中進行達 1000 ℃ 的高溫實驗，并保持 TEM 的原子分辨率，與 DENS 專有的氣體分析儀集成組合使用，可進行反應(yīng)產(chǎn)物分析，是當(dāng)前市場上**支持結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息完全動態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統(tǒng)。
同時為了滿足客戶研究蒸汽類反應(yīng)物對材料的影響的實驗要求，我們設(shè)計了蒸汽發(fā)生器，能夠單獨地將蒸氣添加到任何氣體混合物中，并擁有獨立控制蒸汽參數(shù)的獨特能力，便于開展相對應(yīng)的研究，為原位實驗中提供****的實驗自由度。
主要性能參數(shù)
1 | 加熱范圍：RT - 1,000 °C |
2 | 溫度穩(wěn)定性：≤ ± 0.01 °C |
3 | 分辨率：≤ 100 pm（取決于透射電子顯微鏡配置） |
4 | 漂移率：≤ 0.5 nm/min |
5 | 氣體輸入管線：3 |
6 | 氣體流量范圍（標(biāo)準(zhǔn)化）：0, 0.01-1 ml / min |
04 Stream TEM 原位液相加熱/加電樣品桿
Stream 原位液相加熱/加電系統(tǒng)為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類研究提供了全新的觀察視野。其獨特設(shè)計的 Nano-Cell 芯片使其對樣品加熱或加電時可獨立控制流速和液體厚度。
同時全新升級可集合組裝的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) ，引入了精準(zhǔn)控制和可重復(fù)使用的惰性氣體吹掃能力。通過吹掃，可以迅速去除樣品中多余的液體，從而實現(xiàn)高分辨成像、有價值的元素分析和電子衍射。并且液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS)能夠主動測量液體流量，便于比較不同的實驗結(jié)果。此外，這意味著可以很容易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中潛在的堵塞，并迅速采取行動，能夠高效和有效地利用 TEM 機時。這些獨特的設(shè)計為原位液相實驗的原子級分辨像和高質(zhì)量的 EDS、EELS 結(jié)果帶來了新的可能性。
主要性能參數(shù)
1 | 溫度范圍：RT - 100 °C |
2 | 液體模式：靜態(tài)液體、流動液體 |
3 | 液體流量測量：可測量，通過入口液體流量計 |
4 | 液體厚度控制：可控制，通過入口和出口液體壓力控制 |
5 | 可達到的分辨率 ：≤ 3 ? （取決于透射電子顯微鏡配置） |
6 | 可達到的電場范圍：1 pA - 100 mA |
05 Wildfire TEM 原位加熱樣品桿
Wildfire 原位加熱樣品桿旨在探索材料在極端高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化而設(shè)計，其優(yōu)越的穩(wěn)定性超越了市場上大部分的同類產(chǎn)品，溫度范圍**可達 1300 ℃，并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制性和樣品穩(wěn)定性，確保了在高溫下觀察樣品動態(tài)變化過程，且 TEM 保持**的分辨率和分析性能。
**設(shè)計的 Nano Chip 芯片和獨有的四點探針法可快速反饋溫度變化情況，從而實現(xiàn)即時穩(wěn)定和精確的溫度控制，避免出行加熱不均勻或熱反饋不及時的問題。對于需要進行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶，可選擇配備了 α 傾轉(zhuǎn)角高達 70° 的樣品桿，以便進行多方位的研究。
主要性能參數(shù)
1 | 加熱控制：四探針法 |
2 | 溫度范圍：RT - 1,300 °C |
3 | 溫度均勻性：≥ 99.5 % |
4 | 分辨率：≤ 60 pm（取決于透射電子顯微鏡配置） |
5 | 漂移率：≤ 0.5 nm/min |
6 | 視野范圍：850 μm2 |
DENS 軟件系統(tǒng)：Impulse 集成軟件
Impulse 軟件讓研究人員可以完全控制實驗條件，只需在電腦上設(shè)置好所需的原位觀測實驗條件，Impulse 將完成剩下的工作。在原位 TEM 實驗期間，軟件將根據(jù)設(shè)置好的條件進行實驗驗證過程，而您只需專注于實驗結(jié)果，同時軟件上可以存儲您的實驗設(shè)計，以便重現(xiàn)實驗過程。
軟件特征和優(yōu)勢：
01.智能自動化：在實驗過程中，您可以專注于其他事情，而智能自動化會跟蹤測量結(jié)果并確保滿足所設(shè)置的樣品條件。
02.靈活的數(shù)據(jù)儀表板：Impulse 在排列和調(diào)整圖表大小方面為您提供了極大的靈活性，可輕松掌握任何數(shù)據(jù)細節(jié)。
03數(shù)據(jù)整合：軟件支持將您的原位環(huán)境條件實驗數(shù)據(jù)與其他數(shù)據(jù)同步，并在幾秒鐘內(nèi)為您的相機和探測器圖像提供環(huán)境條件注釋。
04.實驗自由：Impulse 軟件支持您使用自己創(chuàng)建的 Python 腳本進行獨特的實驗控制。您可以選擇創(chuàng)建自己的腳本，或者使用我們的預(yù)制腳本，甚至可以在線訪問數(shù)千個 Python 模塊。這種實驗自由將使您能夠擴展研究范圍并開展您的創(chuàng)造性實驗控制。
全新升級的 FIB 樣品臺
DENSsolutions 現(xiàn)在推出了第三代 FIB 制樣樣品臺，此設(shè)備可以幫助您更簡單、更安全、更快捷地制備薄片樣品，且適配 DENS 樣品桿芯片。
Pharos-STEM
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
X-300 X-FLUXER? 三位全自動熔片儀
合金分析儀
SHM1000
其他
NAI-ZLY-4/6C
CX-100
EMC-1
HMYX-2000
EXAKT 80E
GPZT-JH10/4W
NJ-80型
