粉體行業(yè)在線展覽
粉體行業(yè)在線展覽
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
直接聯(lián)系
泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司.
歐洲
500萬(wàn)以上
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
10986
--
應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。
| 二次電子圖象分辨率 | 1.2nm @ 30keV | 放大倍數(shù) | 1~1,000,000 x |
| 背散射電子圖像分辨率 | 2.0nm @ 15keV | 加速電壓 | 0.2~30 kV |
| 產(chǎn)地屬性 | 歐洲 | 儀器種類 | 場(chǎng)發(fā)射 |
| 價(jià)格范圍 | 500萬(wàn)-700萬(wàn) |
TESCAN綜合礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對(duì)塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨(dú)特技術(shù)是基于一個(gè)完全集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了****的數(shù)據(jù)采集速度，進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn)，低真空模式為選配。
大 樣品室、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺(tái)、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺(tái)可以同時(shí)容納7塊直徑**為30mm的樣品。樣品臺(tái)內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺(tái)有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒（BSE信號(hào)校準(zhǔn)）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測(cè)量
壓差式防碰撞報(bào)警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇
產(chǎn)品咨詢
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
請(qǐng)?zhí)顚懩男彰?
請(qǐng)?zhí)顚懩碾娫挘?
請(qǐng)?zhí)顚懩泥]箱：*
請(qǐng)?zhí)顚懩膯挝?公司名稱：*
請(qǐng)?zhí)岢瞿膯栴}：*
您需要的服務(wù)：
中國(guó)粉體網(wǎng)保護(hù)您的隱私權(quán)：請(qǐng)參閱 我們的保密政策 來(lái)了解您數(shù)據(jù)的處理以及您這方面享有的權(quán)利。 您繼續(xù)訪問我們的網(wǎng)站，表明您接受 我們的使用條款
VEGA 3 XMU/XMH
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
MAIA3
MAIA3
RISE
VEGA3 InduSEM
GAIA3
VEGA 3 Easyprobe
VEGA3 Small Base
MIRA3
TESCAN S8000
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SEM5000
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-原位拉伸一體機(jī)
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D掃描儀
KYKY-EM8100
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
Veritas
Transcend II
略
美國(guó)Fauske 快速掃描絕熱量熱儀-ARSST
