Smartlab SE 產(chǎn)品特征

先進(jìn)的高速探測(cè)器

交叉光路技術(shù) ：CBO （理學(xué)**）

CBO 是理學(xué)**的光路切換單元 ，使用CBO僅需要對(duì)狹縫更換即可 完成兩種不 同的光路幾何之間的切換。SmartLab SE 可以根據(jù)用戶 需求提供三種不同的CBO單元的組合 ：Bragg-Brentano 聚焦光束／平 行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／會(huì)聚光束，B「agg-Brentano 聚 焦光束／發(fā)散光束。

B舊gg”Brentan 聚焦法 ：衷方法多用于常規(guī)粉末 XRD） lj試。

平行光束法 （CBO） ：多層膜拋物面鏡使發(fā)散的光束變?yōu)槠叫泄?。 該光束多用于SAXS ，薄膜樣品或表面粗糙樣品的測(cè)試等。

會(huì)聚光束法 （CBO-E） ：發(fā)散的光束通過具有橢圓形鏡面的多層膜 透鏡會(huì)聚于被測(cè)表面 ，該光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的數(shù)據(jù)。

發(fā)散光束法 （CBO α）：光束被平面 多層膜鏡單色后，只有 Kα，相 比Bragg-Brentano 可以增加數(shù)據(jù)的峰背比。

測(cè)量及數(shù)據(jù)分析軟件包 Smartlab Studio 11

Sma「tlab Studio II 是一個(gè)功能強(qiáng)大、操作界面友好的軟件包 ，其中整合了所有的光路調(diào)整，數(shù)據(jù)測(cè)試和分析的 功能。用戶可以通過不同組件的切換選悻所需的功能 ，例如“測(cè)試” 、“粉末數(shù)據(jù)分析” 、“極圖” 、℃DF分析”或“殘 余應(yīng)力”等功能。所有這些功能都集中于 同一個(gè)界面友好且容易操作 的軟件操作平臺(tái)。

智能光路感知功能

由于光學(xué)組件可以被儀器自 動(dòng)識(shí)別 ，使用理學(xué)的Guidance 軟件可以通過演示動(dòng)畫指導(dǎo)用戶更換光路或附件 。

除此之外，對(duì)于常見的應(yīng)用 ，軟件包中預(yù)設(shè)有推薦的光路 設(shè)置 、樣品校正和測(cè)量序列 ，可以嗎助初學(xué)者盡快熟悉井 完成所需的測(cè)試。

流程圖式的測(cè)試引導(dǎo)欄

Sma『tlab Studio 川 采用了簡(jiǎn)潔的流程圖式的引導(dǎo)欄，從測(cè) 試到數(shù)據(jù)分析的整個(gè)過程中 ，通過提示關(guān)鍵步驟 ，更加直 觀的幫助測(cè)試人員者理解每步操作。

綜合信息管理系統(tǒng)

Smartlab Studio II 采用了先進(jìn)的 SOL數(shù)據(jù)管理模式，于本 地?cái)?shù)據(jù)庫中高效的管理測(cè)試材料信息 、測(cè)試數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)分 析結(jié)果 。SOL數(shù)據(jù)庫具有出色的數(shù)據(jù)檢索和備份功能 ，可以輕松處理海量測(cè)試信 息.

Smartlab SE 可根據(jù)應(yīng)用需求調(diào)整配置

反射／透射 模式下的粉末衍射測(cè)量

反射模式光路配置

• Bragg-Brentano 聚焦法

．平行光束法

·發(fā)散光束法

用戶可以根據(jù)測(cè)量需要在反射模式和透射模式 間切換。使 用會(huì)聚光束進(jìn)行透射法測(cè)試 ，可以獲得更高的強(qiáng)度和更好 的分辨率。

0.1 質(zhì)量分?jǐn)?shù)% 石棉 （溫石棉） 分散于碳酸鈣中 一束發(fā)散的X射線經(jīng)過平面鏡單色后進(jìn)行衍射實(shí) 驗(yàn) ，相比于傳統(tǒng)的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式，可以獲得更高的信背 比。從衍射實(shí)驗(yàn)結(jié)果中可

以看出，？自量的石棉衍射信號(hào)都可 以被檢測(cè)到 。

透射模式光路配置

·聚焦光束法

·平行光束法

（上圖展示的是垂直模式下的透射測(cè)試光路）

分別用反射法和透射法測(cè)試藥 片的X射線衍射峰 藥物片劑一般由含有甜昧的輔料及可食用色素構(gòu) 成，可以有效的降低藥片在吞咽時(shí)的苦澀感。藥片 表面的成分可以通過反射法進(jìn)行測(cè)試 ，而藥片內(nèi)部的信息可以通過透射法獲得。

微區(qū)衍射測(cè)試

采用理學(xué)專有的 CBO-f光學(xué)附件，該附件可以使X射線會(huì)聚于 樣品表面，而不再需要調(diào)整×射線從線光源到點(diǎn)光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探測(cè)器或 HyPix-400 二 維半導(dǎo)體陣列探測(cè)器可以快速的檢測(cè)到微區(qū)實(shí)驗(yàn)中弱的衍射 信號(hào)。

微區(qū)測(cè)試應(yīng)用于即刷電路板

(1） 電容器 （2) IC 芯片 （3） 焊點(diǎn) 采用CBO-f 和 HyPix-400 測(cè)試。

極圖／殘余應(yīng)力測(cè)試

使用線光源在極圖測(cè)量時(shí) ，可以降低由于使用Schulz狹縫 時(shí)，衍射強(qiáng)度隨試樣傾角的增加而降低的情況 ，其測(cè)試效果與點(diǎn)光源一致。軟件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以進(jìn)行晶體取向分析井且可以通過重新計(jì)算得到樣品的全極圖。

在殘余應(yīng)力測(cè)試中 ，使用平行狹縫分析器 （ PSA） 可以有效 的降低由于位移誤差造成的峰位漂移 。

重新計(jì)算后生成的鋁錨片的全相極圖

測(cè)試中使用了 ，α日 樣品臺(tái) ，反射附件 ， Schulz挾縫。全相極圖是基于三個(gè)不 同的 米勒指數(shù)面 仆仆，200 和 220 ） 的測(cè)試結(jié) 果，通過ODF重新計(jì)算得來的 。

小角X射線散射（SAXS)

SAXS測(cè)試可以獲得粒徑或孔徑小于 100nm的材料的分布情 況，衷測(cè)試過程中 28角度移動(dòng)范圍小于 10。。SAXS測(cè)試過程 中，使用雙挾握和平行光光路系 統(tǒng)。／使用真空光路 ，可以減小空氣散射的影響 ，從而獲得高質(zhì)量 的數(shù)據(jù)。

10 SAXS測(cè)試分散于 甲苯中的金粒子 （雙 狹縫光學(xué)系統(tǒng)）

原位測(cè)試

原位 （ In-situ ） 測(cè)試技術(shù) ，可以通過測(cè)試人員的控制，改變 溫度或濕度，同時(shí)測(cè)量衍射數(shù)據(jù)的變化。Smartlab SE支持 各種原位測(cè)量附件 ，如常見的變溫附件 ，濕度控制附件，使 用DSC附件還可以監(jiān)測(cè)樣品在熱反應(yīng)前后的變化 。多種原位 附件與HyPix400半導(dǎo)體陣列檢測(cè)器的結(jié)合 ，使得快速的實(shí)時(shí) 測(cè)量成為可能 ，不僅可以鑒定結(jié)構(gòu)的變化 ，還可以檢測(cè)大尺 寸晶粒和晶面取向的變化。

相變屬蟲化過程，甲糖寧是一種治療糖尿病的 藥物J 監(jiān)測(cè)其在變溫過程中物象的變化。 隨著溫度的變化，甲糖寧的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生改 變。使用二維半導(dǎo)體陣歹I］探測(cè)器HyPix-400， 可以監(jiān)測(cè)其在眼熱反應(yīng) （峰） 前后晶體結(jié)構(gòu) 的變化。