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DENS 透射電鏡原位樣品桿

TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿

直接聯(lián)系

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司

荷蘭

產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)

參考報(bào)價(jià)：

100-150萬(wàn)元

品牌：

DENSsolutions 原位樣品桿

型號(hào)：

TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿

關(guān)注度：

5154

產(chǎn)品介紹

微信圖片_20231115104833.jpg

DENSsolutions 總部位于荷蘭，專注于提供先進(jìn)的原位電子顯微鏡( In-situ TEM)解決方案，致力于開發(fā)創(chuàng)新的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)和設(shè)備，使研究人員能夠在電子顯微鏡下模擬多種實(shí)際工作條件，從而實(shí)時(shí)觀察和分析材料的性質(zhì)和行為。

DENSsolutions 系列產(chǎn)品在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，研究人員可以利用這些設(shè)備進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)、相變、生長(zhǎng)過(guò)程、電化學(xué)反應(yīng)等方面的原位觀察，在材料性能、催化、電化學(xué)，納米技術(shù)和材料合成等許多領(lǐng)域都具有廣泛的應(yīng)用。

產(chǎn)品選型

01 Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿

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Lightning Arctic TEM 原位冷凍熱電樣品桿是 DENSsolutions 全新升級(jí)創(chuàng)新的原位解決方案，可以在冷卻或加熱樣品的同時(shí)，對(duì)其施加可控的電學(xué)刺激，并以原子級(jí)分辨率在透射電鏡下觀察樣品的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過(guò)程。

主要性能參數(shù)

1	系統(tǒng)操控模式：冷凍&加電，加熱&加電
2	可運(yùn)行的溫度范圍：≤ -160 ℃ - 800 ℃
3	冷凍方式：外置液氮罐

4	冷卻和穩(wěn)定時(shí)間：≤ 60 min
5	分辨率：≤ 1 ?（取決于透射電子顯微鏡配置）
6	可達(dá)到的電流范圍：1 pA - 100 mA

02 Lightning TEM 原位熱電樣品桿

Lightning 小程序主圖.jpg

Lightning 原位熱電樣品桿可在精確控制加電和加熱環(huán)境的同時(shí)觀察樣品變化的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)過(guò)程。Lightning 能夠在進(jìn)行熱學(xué)研究的同時(shí)，在 pA 電流靈敏度下進(jìn)行 I-V 測(cè)試，其搭配的 Nano-Chip 芯片能在 900 ℃ 高溫下同時(shí)實(shí)現(xiàn)高于 300 kV/cm 的電場(chǎng)，芯片擁有多種配置，能夠滿足不同的實(shí)驗(yàn)要求，同時(shí)保持 TEM 的原子級(jí)分辨率成像能力。

主要性能參數(shù)

1	溫度范圍：RT - 1,300 °C
2	可達(dá)到的電場(chǎng)范圍：≥ 300 kV/cm at RT/900 °C
3	可達(dá)到的電流范圍：1 pA - 100 mA

4	可達(dá)到的分辨率：≤ 60 pm
5	分辨率：≤ 1 ?（取決于透射電子顯微鏡配置）
6	漂移率：≤ 0.5 nm/min

03 Climate TEM 原位氣相加熱

Climate 小程序主圖.jpg

Climate 原位氣相加熱樣品桿可在在氣氛環(huán)境下同時(shí)觀察樣品在加熱時(shí)的狀態(tài)變化，能夠在 2 bar 的氣體環(huán)境中進(jìn)行達(dá) 1000 ℃ 的高溫實(shí)驗(yàn)，并保持 TEM 的原子分辨率，與 DENS 專有的氣體分析儀集成組合使用，可進(jìn)行反應(yīng)產(chǎn)物分析，是當(dāng)前市場(chǎng)上**支持結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息完全動(dòng)態(tài)關(guān)聯(lián)的原位系統(tǒng)。

同時(shí)為了滿足客戶研究蒸汽類反應(yīng)物對(duì)材料的影響的實(shí)驗(yàn)要求，我們?cè)O(shè)計(jì)了蒸汽發(fā)生器，能夠單獨(dú)地將蒸氣添加到任何氣體混合物中，并擁有獨(dú)立控制蒸汽參數(shù)的獨(dú)特能力，便于開展相對(duì)應(yīng)的研究，為原位實(shí)驗(yàn)中提供****的實(shí)驗(yàn)自由度。

主要性能參數(shù)

1	加熱范圍：RT - 1,000 °C
2	溫度穩(wěn)定性：≤ ± 0.01 °C
3	分辨率：≤ 100 pm（取決于透射電子顯微鏡配置）

4	漂移率：≤ 0.5 nm/min
5	氣體輸入管線：3
6	氣體流量范圍（標(biāo)準(zhǔn)化）：0, 0.01-1 ml / min

04 Stream TEM 原位液相加熱/加電樣品桿

Stream 小程序主圖.jpg

Stream 原位液相加熱/加電系統(tǒng)為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類研究提供了全新的觀察視野。其獨(dú)特設(shè)計(jì)的 Nano-Cell 芯片使其對(duì)樣品加熱或加電時(shí)可獨(dú)立控制流速和液體厚度。

同時(shí)全新升級(jí)可集合組裝的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) ，引入了精準(zhǔn)控制和可重復(fù)使用的惰性氣體吹掃能力。通過(guò)吹掃，可以迅速去除樣品中多余的液體，從而實(shí)現(xiàn)高分辨成像、有價(jià)值的元素分析和電子衍射。并且液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS)能夠主動(dòng)測(cè)量液體流量，便于比較不同的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。此外，這意味著可以很容易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中潛在的堵塞，并迅速采取行動(dòng)，能夠高效和有效地利用 TEM 機(jī)時(shí)。這些獨(dú)特的設(shè)計(jì)為原位液相實(shí)驗(yàn)的原子級(jí)分辨像和高質(zhì)量的 EDS、EELS 結(jié)果帶來(lái)了新的可能性。

主要性能參數(shù)

1	溫度范圍：RT - 100 °C
2	液體模式：靜態(tài)液體、流動(dòng)液體
3	液體流量測(cè)量：可測(cè)量，通過(guò)入口液體流量計(jì)

4	液體厚度控制：可控制，通過(guò)入口和出口液體壓力控制
5	可達(dá)到的分辨率：≤ 3 ? （取決于透射電子顯微鏡配置）
6	可達(dá)到的電場(chǎng)范圍：1 pA - 100 mA

05 Wildfire TEM 原位加熱樣品桿

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Wildfire 原位加熱樣品桿旨在探索材料在極端高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化而設(shè)計(jì)，其優(yōu)越的穩(wěn)定性超越了市場(chǎng)上大部分的同類產(chǎn)品，溫度范圍**可達(dá) 1300 ℃，并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制性和樣品穩(wěn)定性，確保了在高溫下觀察樣品動(dòng)態(tài)變化過(guò)程，且 TEM 保持**的分辨率和分析性能。

**設(shè)計(jì)的 Nano Chip 芯片和獨(dú)有的四點(diǎn)探針法可快速反饋溫度變化情況，從而實(shí)現(xiàn)即時(shí)穩(wěn)定和精確的溫度控制，避免出行加熱不均勻或熱反饋不及時(shí)的問(wèn)題。對(duì)于需要進(jìn)行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶，可選擇配備了 α 傾轉(zhuǎn)角高達(dá) 70° 的樣品桿，以便進(jìn)行多方位的研究。

主要性能參數(shù)

1	加熱控制：四探針法
2	溫度范圍：RT - 1,300 °C
3	溫度均勻性：≥ 99.5 %

4	分辨率：≤ 60 pm（取決于透射電子顯微鏡配置）
5	漂移率：≤ 0.5 nm/min
6	視野范圍：850 μm²

DENS 軟件系統(tǒng)：Impulse 集成軟件

Impulse 軟件讓研究人員可以完全控制實(shí)驗(yàn)條件，只需在電腦上設(shè)置好所需的原位觀測(cè)實(shí)驗(yàn)條件，Impulse 將完成剩下的工作。在原位 TEM 實(shí)驗(yàn)期間，軟件將根據(jù)設(shè)置好的條件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證過(guò)程，而您只需專注于實(shí)驗(yàn)結(jié)果，同時(shí)軟件上可以存儲(chǔ)您的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)，以便重現(xiàn)實(shí)驗(yàn)過(guò)程。

軟件特征和優(yōu)勢(shì)：

01.智能自動(dòng)化：在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，您可以專注于其他事情，而智能自動(dòng)化會(huì)跟蹤測(cè)量結(jié)果并確保滿足所設(shè)置的樣品條件。

02.靈活的數(shù)據(jù)儀表板：Impulse 在排列和調(diào)整圖表大小方面為您提供了極大的靈活性，可輕松掌握任何數(shù)據(jù)細(xì)節(jié)。

03數(shù)據(jù)整合：軟件支持將您的原位環(huán)境條件實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與其他數(shù)據(jù)同步，并在幾秒鐘內(nèi)為您的相機(jī)和探測(cè)器圖像提供環(huán)境條件注釋。

04.實(shí)驗(yàn)自由：Impulse 軟件支持您使用自己創(chuàng)建的 Python 腳本進(jìn)行獨(dú)特的實(shí)驗(yàn)控制。您可以選擇創(chuàng)建自己的腳本，或者使用我們的預(yù)制腳本，甚至可以在線訪問(wèn)數(shù)千個(gè) Python 模塊。這種實(shí)驗(yàn)自由將使您能夠擴(kuò)展研究范圍并開展您的創(chuàng)造性實(shí)驗(yàn)控制。

全新升級(jí)的 FIB 樣品臺(tái)

DENSsolutions 現(xiàn)在推出了第三代 FIB 制樣樣品臺(tái)，此設(shè)備可以幫助您更簡(jiǎn)單、更安全、更快捷地制備薄片樣品，且適配 DENS 樣品桿芯片。

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