粉體行業在線展覽
RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統 XRTmicron
面議
上海翱晶
RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統 XRTmicron
695
●X射線源:微焦點高亮度旋轉陽極
●入射光學器件:多層平行光束準直器
●可使用晶體準直器
●自動更換樣品(以水平配置為例)
●兼容投射&反射幾何的測角儀系統
●使用高靈敏度和高分辨率X 射線照相機捕獲數字圖像
●位錯形貌圖像分析
●不僅用于研發,也用于批量質量管控
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
片式電容四參數測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀