粉體行業在線展覽
晶片晶格畸變應力掃描儀
面議
上海翱晶
晶片晶格畸變應力掃描儀
575
產品型號:CS1
通過非接觸式的對晶片全體快速掃描(4/6英寸20秒),可對所有透明或半透明晶片進行晶片內部的位錯聚集以及應力分布的感性區分,以利于快速的掌握晶片質量的**手資料。自動存儲以及任意提取觀察部位的擴大功能便于今后對于芯片的失效分析提供簡易而有力的根據。特別是針對第三代半導體的碳化硅事業,是一臺集襯底、外延和器件產線必不可少的出貨前或生產前的檢測設備,對芯片的產出率起到無可替代的功能作用,性價比極高。
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
片式電容四參數測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀