粉體行業在線展覽
AOI濾光片檢測設備
面議
大族半導體
AOI濾光片檢測設備
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主要特點:
1、高檢測效率
2、定制光學方案,更好的光學效果
3、采用傳統算法+深度學習算法結合的方式,有更優異的檢測效果
4、較高的設備穩定性
主要參數:
主要參數 | 加工尺寸 | 適配135*115/115*115/101*101尺寸的料盒; 20*28尺寸一下濾光片組件。 |
加工速度 | 正檢: 一個視野4顆料,UPH為7K~8K(良率80%以上); 一個視野2顆料,UPH為5K~6K(良率80%以上); 一個視野1顆料,UPH為3K~4K(良率80%以上); | |
正背檢: 一個視野4顆料,UPH為5K~5.5K(良率80%以上); 一個視野2顆料,UPH為3.5K~4K(良率80%以上); 一個視野1顆料,UPH為2K~3K(良率80%以上); | ||
加工精度 | 玻璃區域10um以上缺陷可檢 支架區域30um以上缺陷可檢 | |
平臺參數 | ±0.1mm | |
稼動率 | 0.95 | |
良率 | 60%~80% |
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