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深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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面議
1287
此設(shè)備配備了***的測(cè)試模式
具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測(cè)試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測(cè)試模式
有助于驗(yàn)證HBM/CDM模式的測(cè)試
對(duì)于器件管腳的入射波和器件管腳發(fā)出的反射波，都可在示波器上確認(rèn)到
此數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)保存，并在專用的顯示軟件上表示
專用顯示軟件可對(duì)入射波/反射波的合計(jì)值，snapback特性以及漏電流測(cè)試的電流值進(jìn)行圖形描繪
被保存的示波器上的數(shù)據(jù)可以進(jìn)行高自由度的演算處理
比如，對(duì)于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護(hù)電路上的**電流值等，可以通過(guò)曲線的重疊描繪來(lái)確認(rèn)其差異
并且可以與半自動(dòng)探針臺(tái)連接，實(shí)現(xiàn)TLP測(cè)試的自動(dòng)化
由于可以在Wafer level上進(jìn)行印加管腳間或芯片間的自動(dòng)移位，所以能夠很大地提升測(cè)試效率
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